—— PROUCTS LIST
- 電壓擊穿試驗(yàn)儀
- 電阻測(cè)試儀
- 介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀
- 拉力試驗(yàn)機(jī)
- 總有機(jī)碳分析儀
- 低溫脆性沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 完整性測(cè)試儀
- 漏電起痕試驗(yàn)機(jī)
- 磨擦磨損試驗(yàn)機(jī)
- 耐電弧試驗(yàn)儀
- 門(mén)尼粘度儀
- 落錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 垂直燃燒試驗(yàn)儀
- 熱老化試驗(yàn)箱
- 氧指數(shù)試驗(yàn)儀
- 泡沫落球回彈試驗(yàn)儀
- 橡膠硫化儀
- 氣動(dòng)沖片機(jī)
- 啞鈴制樣機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)試儀
- 落球沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 阿克隆摩擦試驗(yàn)機(jī)
- 恒溫恒濕試驗(yàn)箱
- 海綿落球回彈率測(cè)試儀
- 塑料球壓痕硬度計(jì)
- 毛細(xì)管流變儀
- 裁刀
- 海綿泡沫壓陷硬度試驗(yàn)儀
- 擺錘沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 熱變形維卡軟化點(diǎn)測(cè)定儀
- 熔體流動(dòng)速率儀
- 平板硫化機(jī)
- 簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 微量水分測(cè)定儀
- 制樣機(jī)
- 灼熱絲試驗(yàn)儀
- 疲勞沖擊測(cè)試儀
- 缺口制樣機(jī)
- 差示掃描量熱儀
- 紫外老化試驗(yàn)箱
- 可塑性試驗(yàn)機(jī)
- 導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀
- 鼓風(fēng)干燥箱
- 邵氏硬度計(jì)
- 海綿泡沫拉伸強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
- 石油產(chǎn)品全自動(dòng)凝點(diǎn)傾點(diǎn)測(cè)試儀
- 閉口閃點(diǎn)全自動(dòng)測(cè)定儀
如何選擇合適的介電常數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)?
大家平時(shí)在使用介電常數(shù)的時(shí)候不知道怎么對(duì)應(yīng)相對(duì)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),下面我來(lái)為大家梳理一下:
如何選擇合適的介電常數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
選擇合適的介電常數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)需結(jié)合材料特性、應(yīng)用場(chǎng)景及行業(yè)規(guī)范,以下為關(guān)鍵考量點(diǎn):
一、?介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀材料類(lèi)型與測(cè)試方法匹配?
?固體材料?
需關(guān)注形狀與尺寸:規(guī)則固體(如陶瓷片)適用平行板電極法(ASTM D150)8,不規(guī)則固體可選用諧振腔法或傳輸線(xiàn)法。
高溫/低溫材料需滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)中溫度控制要求(如GB/T 1409-2006規(guī)定23℃±2℃的溫控范圍)。
?液體材料?
需采用專(zhuān)用測(cè)試池(如圓筒電極)并遵循GB/T 5654-2007的取樣與預(yù)處理規(guī)范(消除氣泡、雜質(zhì)等)。
高精度測(cè)試推薦IEC 60250標(biāo)準(zhǔn)中的工頻測(cè)量方法。
?氣體與粉末?
氣體介電常數(shù)測(cè)量可參考LC諧振電路法,需通過(guò)壓強(qiáng)調(diào)節(jié)和頻率回歸分析計(jì)算電容變化率。
粉末材料需壓實(shí)成標(biāo)準(zhǔn)試樣,避免孔隙率影響結(jié)果準(zhǔn)確性。
二、?介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀應(yīng)用場(chǎng)景與頻率范圍?
?低頻與工頻場(chǎng)景(50Hz~1MHz)?
電力設(shè)備絕緣材料(如變壓器油、電纜)需符合GB/T 1409-2006的工頻測(cè)試規(guī)范。
液體材料適用GB/T 5654-2007的直流電阻率同步檢測(cè)要求。
?高頻與微波場(chǎng)景(>1MHz)?
高頻電路基板(如Rogers材料)需采用諧振法或傳輸線(xiàn)法,參考IEC 60250的高頻測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
微波材料(如天線(xiàn)介質(zhì))推薦網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量反射/透射參數(shù),滿(mǎn)足IEEE標(biāo)準(zhǔn)中的信號(hào)完整性要求。
三、?介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀行業(yè)規(guī)范與合規(guī)性?
?國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)?
GDAT系列?:適用于電力、電子行業(yè),如GB/T 1409-2006規(guī)定試樣預(yù)處理?xiàng)l件及電極系統(tǒng)校準(zhǔn)流程.
?行業(yè)特殊標(biāo)準(zhǔn)?:航空航天材料需滿(mǎn)足高溫真空環(huán)境下的介電穩(wěn)定性測(cè)試(如航天器隔熱層測(cè)試規(guī)范)。
?國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)?
?IEC 60250?:全球通用的電氣絕緣材料測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),覆蓋電極設(shè)計(jì)、溫濕度控制及誤差補(bǔ)償方法。
?ASTM D150?:針對(duì)平行板法制定,明確電極邊緣電容消除與保護(hù)電極的應(yīng)用規(guī)范。
四、?介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)試精度與設(shè)備要求?
?精度等級(jí)?
科研場(chǎng)景需≤0.1%的高精度儀器(如數(shù)字合成信號(hào)源設(shè)備)。
工業(yè)質(zhì)檢可接受±1%,但需滿(mǎn)足重復(fù)性≤0.2%。
?設(shè)備功能適配?
高頻測(cè)試需支持寬頻段(如100kHz~160MHz)及自動(dòng)校準(zhǔn)功能。
多參數(shù)測(cè)試設(shè)備應(yīng)兼容電容、電感、Q值等同步測(cè)量,滿(mǎn)足復(fù)雜材料分析需求。
五、?介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀操作流程與數(shù)據(jù)驗(yàn)證?
?標(biāo)準(zhǔn)化操作?
嚴(yán)格遵循標(biāo)準(zhǔn)中的升壓速率(如短時(shí)試驗(yàn)選擇500V/s或2000V/s)及擊穿時(shí)間窗口(10-20秒)。
階梯升壓試驗(yàn)需預(yù)設(shè)初始電壓(40%預(yù)計(jì)擊穿值)并記錄級(jí)間切換時(shí)間(<0.5秒)。
?數(shù)據(jù)驗(yàn)證?
通過(guò)交叉驗(yàn)證(如電容法與諧振法對(duì)比)確保結(jié)果一致性。
異常數(shù)據(jù)需復(fù)測(cè)并分析環(huán)境干擾因素(如濕度波動(dòng)或殘余電感)。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀總結(jié)建議
?選擇維度? | ?推薦標(biāo)準(zhǔn)/方法? | ?典型應(yīng)用? |
工頻絕緣材料 | GB/T 1409-2006、IEC 60250 | 變壓器油、電纜絕緣層測(cè)試 |
高頻通信材料 | IEC 60250、傳輸線(xiàn)法 | 微波基板、天線(xiàn)介質(zhì) |
液體材料 | GB/T 5654-2007、圓筒電極法 | 絕緣油、有機(jī)溶劑 |
科研高精度需求 | ASTM D150、諧振腔法 | 納米復(fù)合材料、生物組織 |
電壓擊穿測(cè)試儀,體積表面電阻率測(cè)試儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,漏電起痕試驗(yàn)儀,耐電弧試驗(yàn)儀,TOC總有機(jī)碳分析儀,完整性測(cè)試儀,無(wú)轉(zhuǎn)子硫化儀,門(mén)尼粘度試驗(yàn)機(jī),熱變形維卡溫度測(cè)定儀,簡(jiǎn)支梁沖擊試驗(yàn)機(jī),毛細(xì)管流變儀,橡膠塑料滑動(dòng)摩擦試驗(yàn)機(jī),氧指數(shù)測(cè)定儀,水平垂直燃燒試驗(yàn)機(jī),熔體流動(dòng)速率測(cè)定儀,低溫脆性測(cè)試儀,拉力試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫壓陷硬度測(cè)試儀,海綿泡沫落球回彈測(cè)試儀,海綿泡沫壓縮永九變形試驗(yàn)儀