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四探針?lè)阶鑳x更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：806四探針?lè)阶鑳x①檢查電源線是否接觸良好； ②檢查后面板上的電源開(kāi)關(guān)是否已經(jīng)打開(kāi) ③檢查保險(xiǎn)絲是否熔斷，如有必要，請(qǐng)更換保險(xiǎn)絲 如經(jīng)上述檢查無(wú)誤后，測(cè)試儀仍未正常啟動(dòng)，請(qǐng)聯(lián)系本公司進(jìn)行解決。
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薄膜四探針測(cè)定儀更新時(shí)間：2024-07-17型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：888薄膜四探針測(cè)定儀GB/T14141-2009硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定直排四探針?lè)?biāo)配:測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套 電源線數(shù)據(jù)線一套。
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雙電測(cè)試四探針電阻率測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-17型號(hào)：BEST-380廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：825雙電測(cè)試四探針電阻率測(cè)試儀用于測(cè)試電阻、電導(dǎo)率等電學(xué)參數(shù)的儀器。它的工作原理是利用四個(gè)探針?lè)謩e接觸被測(cè)物體的四個(gè)點(diǎn)，形成一個(gè)閉合電路，通過(guò)測(cè)量電流和電壓的變化來(lái)計(jì)算出被測(cè)物體的電學(xué)參數(shù)。
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金屬膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀更新時(shí)間：2024-07-17型號(hào)：BEST-300C廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：905
金屬膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；
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高量程體積表面積電阻率測(cè)試儀更新時(shí)間：2024-07-17型號(hào)：BEST-380廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1000高量程體積表面積電阻率測(cè)試儀中心為圓柱體,直徑為50mm, 標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有規(guī)定高度，但一般是40mm圓柱體外為一圓環(huán),圓環(huán)內(nèi)徑為60mm,外徑為80mm, 標(biāo)準(zhǔn)中沒(méi)有規(guī)定高度，但一般是40mm
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